伸び計用校正器

伸び計用校正器

GWB-200JA 伸び計校正器は、純粋な機械式の高精度変位マイクロメーター機器です。

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制品详细

はじめに
GWB-200JA 伸び計校正器は、純粋な機械式の高精度変位マイクロメーター機器です。 JJG762-92 伸び計検証規則に従って、さまざまなタイプの伸び計を校正するために特別に設計されており、変位センサーや対応するダイヤルインジケーターやマイクロメーターの検証にも広く使用されています。

構造と読み方
1. この機器は、高精度差動プローブと測定ブラケットで構成されています。校正デバイスはモジュール設計を特徴としています。高精度差動プローブとそのサポートアームは、さまざまな構成と位置で組み合わせることができ、拡張カラムアタッチメントによって補完されます。円筒形、プレート形、ブレード構成などの多様なサンプル タイプが装備されており、複数の仕様にわたる引張ゲージの便利な校正が可能です。ユーザーは、特定の試験要件に合わせた専用アクセサリをインストールすることで、精密な変形測定をカスタマイズすることもできます。
2. 精密差動プローブは、スライディングロッド、測定ロッドスリーブ、および読み取りインナーチューブで構成されています。

プロダクトパラメータ

アイテム

詳細

測定伸び計の最大標点間長さ Lmax

500mm

アッパーサポートアームの取付穴径

φ10; φ28

内筒を読み取る差動プローブの軸スケール

0.5mm/溝

差動プローブの内筒のバーニヤスケールの読み取り値

グリッドあたり 0.0002 mm

差動プローブの外筒の周目盛りの読み取り値

0.002mm/溝

校正器指示誤差(範囲0.5mm以内)

絶対誤差 ≤0.5 μm

キャリブレータ表示エラー(0.5mm以上の範囲)

ポイントあたりの相対誤差 ≤0.10%

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